应用场景 / 封装后成品测试

封装后成品测试

环节二 · 封装后:对封装后的器件与成品做批量光电性能筛选,确保同批次性能一致。

封装后批量筛选一致性成像侧
封装后成品测试架构示意图
封装后成品测试架构 · 示意图
01

测什么

器件完成封装后,性能会因封装工艺、光学窗口等因素发生细微变化。封装后成品测试对这些器件与成品做批量光电性能筛选,关注响应率、噪声、NETD、非均匀性、盲元率等口径,核心目标是确保同一批次内的性能一致。

02

怎么测

STEP 1

批量上料

操作人员只需放置被测器件,系统自动完成开机与参数配置。

STEP 2

一键测试

系统自动完成信号采集、指标计算与判定,减少人工干预。

STEP 3

一致性筛选

结合统计阈值自动标记异常单元,确保批次内性能差异可控。

STEP 4

数据管理

批量数据归档,支撑批次追溯与工艺反馈。

IRDT 红外焦平面探测器测试系统
IRDT 红外焦平面探测器测试系统 · 实物照片
IRDT 探测器光谱响应测试
IRDT 探测器光谱响应测试 · 实物照片
IBBE 面源黑体(均匀辐射场)
IBBE 面源黑体(均匀辐射场) · 实物照片
03

输出物

封装后成品测试的输出是一套可追溯的筛选结果:批次一致性数据、异常标记清单,以及可直接下发的校正系数,为后续量产与机芯标定打底。这一环交钥匙:客户只需提供封装后器件,即可获得同批次一致性判定与筛选结果,直接用于放行与后续标定。

04

AI 价值

批量测试的重复判读交给 AI:自动判定与异常标记统一口径,减少人工误判;报告草稿自动生成,工程师把精力放在真正需要判断的地方。

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